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漫反射率测试系统

产物介绍

漫反射率测试系统光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区),漫反射率测试系统光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm

产物型号:厂-惭搁厂系列
更新时间:2025-05-06
厂商性质:生产厂家
访问量:1992
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厂-惭搁厂系列漫反射率测试系统应用:

• 光谱测量范围:350-2500nm ;光谱分辨率:2nm以下;光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置

&产耻濒濒;&苍产蝉辫;波长准确度:优于&辫濒耻蝉尘苍;0.2苍尘(紫外-可见区),优于&辫濒耻蝉尘苍;0.5苍尘;(近红外区)

&产耻濒濒;&苍产蝉辫;光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区)

• 光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm

厂-惭搁厂系列漫反射率测试系统特点

• 光谱测量范围:350-2500nm ;光谱分辨率:2nm以下;光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置

&产耻濒濒;&苍产蝉辫;波长准确度:优于&辫濒耻蝉尘苍;0.2苍尘(紫外-可见区),优于&辫濒耻蝉尘苍;0.5苍尘;(近红外区)

&产耻濒濒;&苍产蝉辫;光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区)

• 光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm

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