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当前位置：首页产物中心光谱系统显微缺陷膜厚膜厚测量系统 FE-3700/5700

膜厚测量系统 FE-3700/5700

产物介绍

可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。

产物型号：
更新时间：2025-05-07
厂商性质：生产厂家
访问量：458
产物咨询 18117546256

产物分类

PRODUCT CLASSIFICATION
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用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有机贰尝
有机贰尝 / ITO / 玻璃

PDP
介电层/玻璃








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