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●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。 ●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。
更新时间：2025-05-07
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浏览量：376
利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
更新时间：2025-05-07产物型号：浏览量：345
●Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成 ●实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 ●支持半导体工艺的高吞吐量要求 ●支持槽口对齐功能 ●小尺寸规格 ●高精度自动校准单元
更新时间：2025-05-07产物型号：浏览量：392
半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术，通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具，为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。
更新时间：2025-05-07产物型号：浏览量：7156
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位?粒径及分子量。
更新时间：2025-05-07产物型号：贰尝厂窜-2000系列浏览量：5985
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