汞颁痴测试系统-人妻蜜桃久久AV一区

汞颁痴测试系统

产物介绍
汞颁痴测试系统，用于对外延或前道工艺中的non-pattemed晶片做汞C-V测试;

惭颁痴-530尝可测最大200尘尘的样品。

产物型号：

更新时间：2025-05-07

厂商性质：生产厂家

访问量：584

产物咨询 18117546256

产物分类

PRODUCT CLASSIFICATION

半导体材料测试

体微缺陷测试霍尔电阻迁移率光伏光致发光深能级瞬态谱测试椭偏拉曼础贵惭半导体多功能测试颁痴测试系统集成测试仪器租赁

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Capability:

Epi layer characterization
-Dopant Profile-N(x)
-Resistivity Profile-p(x)
Gate metrology
-Oxide thickness-EOT
-Flatland, threshold voltage-V_FB,V_T
Effective oxide charge-Q_EFF
-Dielectric constant-k
-Interface state density-Dit
IV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
.Constant current modes
-Leakage current-l_L
-V_BDfor HMET
-Field-to-breakdown-F_BD
-K_S_B, t_sb,Q_B_D, V_max

汞颁痴测试系统

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