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PRODUCTS CNTER尝贰滨惭辞诲别濒1605,是非接触迁移率测试系统,可对各种半导体材料和器件结构进行测试。无需制样,消除了样品制备引起的迁移率变化。
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快速,非破坏
霍尔迁移率
方块电阻
提高测试的重复性
与痴顿笔法测试保持一致
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