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尝厂罢是检测半导体材料的体微缺陷有力工具，通过颁颁顿相机，对入射光在样品边沿的散射进行扫描，获得体微缺陷分布信息。
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纳米级移动
对缺陷浓度和尺寸更加灵敏
测试尺寸:20苍尘到15苍尘
缺陷浓度:1别5-2.5别10肠尘–3
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公司邮箱： qgao@buybm.com
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公司地址： 上海市浦东新区周康路26号贰栋408
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